Bassetto, Samuel (2005) Toward a dynamic, operational and "embeded knowledge" manufacturing improvement. PhD thesis Génie Industriel, ENSAM 2005ENAM0009.

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Abstract

Industrial production of manufactured goods enables, through a well designed organization and adapted actions, to raise quality of thousand products at the highest level.
This thesis is involved in quality continuous improvement by actions on manufacturing systems. It is applied to integrated circuit manufactures. These industries are constrained by a high product turn rate, a short period of time of high leveled return on investments, a customer requirement of high level of quality, a requirement of profitability for research and production facilities. These industries are facing short cycle time for learning and mastering their technologies while maximizing their benefits. That is why constant quality improvement is a strategic goal for theses industries. Quality cannot be only announced but have also to be operationally applied and to go over domain constraints. For that, we propose an enterprise model to qualify and improve manufacturing system in a dynamic and operational manner so as sustaining business knowledge and improving business excellence. The model is built from results of our two industrial study cases. The dissertation starts with a presentation of process control and its main objective. The second chapter deals with operational risks management. The third chapter deals with statistical process control of plant's facilities. The enterprise model is then built in the fourth chapter by aggregating results form the two previous analyses. Recommendation for the model implementation to other industries concludes the dissertation.

References

[ABELLO 1999], James ABELLO, Jeffrey KORN, Visualizing Massive Multi-Digraphs, rapport de recherches, Information Visualization Research, 1999
[ALAVI 1999], Maryam ALAVI, Dorothy LEIDNER, Knowledge Management Systems: Emerging Views and Proactices from the field, Proceedings of the 32nd Hawaii International Conference on System Science, IEEE, 1999
[ANG CHENG 1999], ANG CHENG-LEONG, KHOO Li PHENG, GAY ROBERT, KENG LENG, IDEF*: a comprehensive modelling methodology for the development of manufacturing enterprise systems, International Journal of Production Research, Vol 37, N°17, p3839-p3858, 1999
[ESCOFIER 1998], Brigitte ESCOFIER, Jérôme PAGES, Analyses factorielles simples et multiples, Dunod, 3ème edition, 1998
[BARRE 2005], Jean François BARRE, "Modélisation des entreprises: un enjeu majeur pour le futur", GDR MACS, Clermont Ferrand, 1 Avril 2005.
[BASSETTO 2004], Samuel BASSETTO, Ali SIADAT, Patrick MARTIN, A knowledge Management Framework, applied to relevant information discovery and reuse, CIRP ICME 2004, pp 151-157, ISBN 88-87030-44-8, Naples, 2004
[BASSETTO 2002], Samuel BASSETTO, Ali SIADAT, Patrick MARTIN, Introduction to the prototyping of a intelligent «process control» system, IFIP BASYS 2002, pp427-437, ISBN- 1-4020-7211-2Cancùn, 2002
[BELL 1992], D. BELL, L. COX, S. JACKSON, P. SCHAEFER, Using Causal Reasoning for Automated Failure Modes and Effects Analysis (FMEA), Proceeding of the 1992 IEEE Annual Reliability and Maintainability Symposium, pp 343-353
[BERGERET 2004], F. BERGERET, Y. CHANDON, C. LE GALL, De la statistique dans l'industrie: un exemple à Freescale (anciennement Motorola semi-conducteurs), Journal de la Société Française de Statistique, Tome 145, N°1, 2004.
[BERIO 2001], Giuseppe BERIO, François VERNADAT, Enterprise modelling with CIMOSA: functional and organizational aspects, Production planning & control, VOL 12, N°2, pp 128-136, 2001.
[BERNARD 2003], Sous la direction d'Alain BERNARD, Fabrication assistée par ordinateur, IC2 Productique, Hermès, 2003, ISBN 2-7462-0618-8
[BERTIN 1977], Jacques BERTIN, La graphique et le traitement graphique de l'information, Paris, Flammarion; 1977, 273p.
[BONING 1992], Duane S. BONING, Michael B. McILRATH, Paul PENFIELD Jr, Emmanuel M. SACHS, A General Semiconductor Process Modeling Framework, IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Novembre 1992.
[BOO SIK KANG 1999], Boo SIK KANG, Deok HYOEN CHOE, Sang Chan PARK, Intelligent «process control» in manufacturing industry with sequential processes, International Journal of Production Economics 60-61 (1999) 583-590, Elsevier editions.
[BOWLES 2003], John B. BOWLES, An assessement of RPN Prioritization in a Failure Modes Effects and Criticality Analysis, Proceedings Annual Reliability and maintenability Symposium, 2003.
[BRAUNSPERGER 1996], M. BRAUNSPERGER, Designing for Quality and Integrated approach for simultaneous quality engineering, Institute of Mechanical Engineering, Part B: Journal of engineering Manufacture, 210(B1), pp 1-10.
[CARAUX 1984], G. CARAUX, Réorganisation et représentation visuelle d'une matrice de données numétiques: un algorithme itératif, Revue de Statistique appliquée, Vol XXXII, N°4, 1984.
[CEI 60300-2, 2004] IEC, Gestion de la sûreté de fonctionnement - Partie 2: Lignes directrices pour la gestion de la sûreté de fonctionnement, IEC International, 60300-2 CEI:2004
[CEI 60300-3-1, 2004] IEC, Gestion de la sûreté de fonctionnement - Partie 3-1: Guide d'application - Techniques d'analyse de la sûreté de fonctionnement - Guide méthodologique IEC International, CEI 60300-3-1, 2004
[CEI 61014, 2004] IEC, Programmes de croissance de fiabilité, IEC International, CEI 61014, 2004
[CHEN 1997] D. CHEN, B. VALLESPIR, G. DOUMEINGTS, GRAI integrated methodology an its mapping onto generic enterprise reference architecture and methodology, Computers in Industry, 33, pp387, 394, 1997
[CLARK 2000], Fiona CLARK, Andreas FRÜCHTL, Designing a knowledge strategy, Knowledge Management Review, Vol3, Mois 05, pp20-25, 2000
[CORRIOU 1996], Jean Pierre CORRIOU, Commande des procédés, Technique et Documentation, 1996, ISBN 2-7430-0145-3
[D'OCAGNE 1885], Maurice D'Ocagne, Coordonnées parallèles et axiales - méthode de transformation géométrique et procédé nouveau de calcul graphique déduit de la considération des coordonnées parallèles, Pont et Chaussées, Gauthier Villars Imprimeurs, 1885
[DABADE 1996], B.M. DABADE, P.K. RAY, Quality engineering for continuous performance improvement in products and processes: A review and reflections, Quality and reliability engineering international; Vol 12, 173-189, 1996
[DALE 1990], BG DALE, P. SHAW, Failure Mode and Effects Analysis in the U.K. Motor industry: A State of the art study, Quality and Reliability Engineering Internationnal 6(3), pp 16-23 1990.
[DAVIS 1988], M.S. DAVIS, R.E. MILES, V. POSTOYALKO, A two step methodology for CMOS VLSI reliability improvement: step one, Quality and Reliability International, Vol 4, pp 317-329, 1988
[DE GRAVE 2004], Arnaud DE GRAVE, Conception intégrée des Microsystèmes ElectroMécaniques, Thèse de doctorat, INPG 15 Octobre 2004
[DENIS 2000], François DENIS, Rémi GILLERON, Apprentissage à partir d'exemples, Notes de cours, Université de Lille, Maîtrise de mathématiques et sciences sociales, option Intelligence artificielle, 14 avril 2000.
[DEPINTO 1997], Gary DE PINTO, Managing Factory Risk to Improve Customer Satisfaction, Semiconductor International 1997
[DIENG, 1990], Rose DIENG, Méthode et Outils d'acquisition des connaissances, Rapport de recherche N°1319, INRIA, Novembre 1990
[DoD, 1984] MILITARY SANTDARD, Procedures for performing a failure mode effects and criticality analysis, MIL-STD-1629A, Department Of Defense, Washington, 1984
[DOUMEINGTS 1984] DOUMEINGT G, "Méthode GRAI: méthode de conception des systèmes en productique", thèse d'Etat, Université de Bordeaux 1, 1984.
[DOUMEINGTS 2001], G. DOUMEINGTS, Y. DUCQ, Enterprise modelling techniques to improve efficienty of enterprises, Production planning and control, Vol 12, N°2, pp 146-163, 2001
[DUCQ 1999], Yves Ducq, Contribution à une méthodologie d'analyse de la cohérence des systèmes de production dans le cadre du modèle GRAI, Thèse de doctorat, présentation, GRP Nimes, juin 1999
[EDGAR 2000], Thomùas F. EDGAR, Stephanie W. BUTLER, Jarrett CAMPBELL, Carlos PFEIFFER, Christophe BODE, Sung Bo WANG, K.S. BALAKRHSHNAN, J. HAHN, Automatic control in microelectronics manufacturing: Practices, challenges, and possibilities, Automatica, N°36, pp 1567-1603, 2000
[ERMINE 2000], Jean Claude ERMINE, La gestion des connaissances, un levier stratégique pour les entreprise, Actes IC2000, Ingénierie des connaissances, toulouse, 10-12 mai 2000
[ERMINE 1996], Jean Louis ERMINE, Mathias CHAILLOT, Philippe BIGEAON, Borsi CHARRETON, Denis MALAVIEILLE, MKSM, Méthode pour la gestion des connaissances, Ingénierie des systèmes d'information, AFCET, Hermès, Vol4, N°4, pp541-575, 1996.
[FIPS 1993], Federal Information Processing Standards Publication, IDEF0, FIPS Publication 193, 21 Decembre 1993.
[FRIGIERE 2001], Joël FRIGIERE, Claude THIRION, De l'ingénierie des connaissances au management des connaissances chez Usinor, Management des connaissances, Hermes 2001, p 231 - p 240
[FU 1996], Yongjian FU, Discovery of multiple-level rules from large databases, Simon Fraser University, Thesis, Juillet, 1996
[GARDONI 2004], Mickael GARDONI, Mémoire d'habilitation à diriger les recherches, INPG, 2004
[GARIN 1994], Hervé GARIN, AMDEC/MADE/AEEL, L'essentiel de la méthode, Collection A SAVOIR, ISBN, 2-12-475013-5, 1994
[GENTIL 2002], Marie Hélène GENTIL, Catherine MERLE, Yves DUCQ, Guy DOUMEINGTS, Using GRAIPerf to Design aand Implement a Quality Performance Indicator System in accordance with the New ISO9000 :2000 Standards, IEEE SMC MP2N5, 2002
[GIRARD 2004], Philippe GIRARD, Guy DOUMEINGTS, Modelling the engineering design system to improve performance, Computers & Industrial Engineering, Vol 46, N°1, pp43-67, 2004.
[GOYAL 1993], R.K. GOYAL, FMEA, The alternative Process Hazard Method, Hydrocarbon Processing, 72(5), pp 95-99, 1993
[HAO 2000], Liang HAO, Zhang XIAOFENG, Wang YU, Wu QIDI, Research of Supply chain Modeling Technology, High Technology Letters, Vol6, N°3, Août 2000
[HATON 1987] Jean Paul HATON, Knowledge-Based Methodology in Pattern Recognition and Understantding, Rapport de Recherch INRIA, Juillet 1987
[HAYES-ROTH 1994], F. Hayes-Roth, N. JACOBSTEIN, The state of knowledge-based Systems, ACM, vol 37, N°3, p27-39, 1994
[HAYES-ROTH 1983], B. HAYES-ROTH, D.B. LENAT, D.A. WATERMAN, Building Expert Systems. Reading MA: Addison-Wesley Publishing Compagny, 1983
[HYUNDO 1999], HYUNDO Cho, INBOM Lee, Integrated framework of IDEF modelling methods for structuring design of shop floor control systems, International Journal of Computer Integrated Manufacturing, Vol 12, N°2, p113 - 128, 1999
[ISHII et al. 2003], Steven KMENTA, Brent CHELDELIN, Kosuke ISHII, Assembly FMEA: A simplified Method for Identifying assembly errors, ASME International Mechnical Engineering Congress & Exposition Proceedings, Washington, D.C. Novembre 2003
[ISHII 2003], Seung J. RHEE, Kosuke ISHII, Using cost based FMEA to enhence reliability and serviceability
[JOHANNES, 2000], Werner Andreas JOHANNES, Structure and applicability of quality tools, decision support for the application of «process control» and improvement techniques, Thèse de doctorat, W.A.J. Schippers, ISBN 90-386-0723-7, 2000
[KINNEY, 1991], Barry T. McKINNEY, FMECA, The right way, Proceedings Annual Reliability and maintenability Symposium, 1991
[KOSANKE 1999], K. KOSANKE, M. ZELM, CIMOSA modelling processes, Computers in industry 40, pp 141-153, 1999
[KOTZ 1998], Samuel KOTZ, Cynthia R. LOVELACE, Process Capability INdicies in Theory and Practice, Editions Arnold, 1998, ISBN 0340691778
[LABROUSSE 2004], Michel LABROUSSE, Proposition d'un modèle conceptuel unifié pour la gestion dynamique des connaissances d'entreprise, Ecole centrale de Nantes, Thèse de Doctorat, 2004
[LEBART 2000], Ludovic LEBART, Alain MORINEAU, Marie PIRON, Statistique exploratoire multidimensionnelle, Dunod, 3ème edition 2000
[LESAFFRE 2000], François-Marie LESAFFRE, Claude THIRION, Laurent BAUDOIN, Systèmes d'aide à la conduite des procédés industriels, Editions scientifiques et médicales ELSEVIER, Mec. Ind. 1, 447-455, 2000.
[LIEBOWITZ, 2000], J. LIEBOWITZ, Building organizational intelligence: A knowledge management primer, CRC Press, Boca Raton, FL, 2000
[MACKULAK, 1984], G.T. MACKULAK, High level planning control IDEF sub 0 analysis for airframe manufacture, Journal of manufacturing system, volume 3, N°2, 1984, pp121-133.
[MALOUBIER 1984], H. MALOUBIER, D. BREUIL, G. DOUMEINGTS, J. GAVARD, Use GRAI method to analyse and design production management system, Advances in production management systems, production management systems in the 80's, Proceedings of the IFIP WG 5.7, working conference, pp65-76, 1984.
[MARTIN 1994], Philippe MARTIN, La méthodologie d'acquisition des connaissances KADS et les explications, Rapport de Recherche 2179, INRIA, Janvier 1994
[MATTA et Al., 1999], Nada MATTA, Olivier CORBY, Myriam RIBIERE, Méthodes de capitalisation de mémoire de projet, Rapport de Recherche N°R3819, INIRIA
[MAYER 1995], Richard J. MAYER, Christopher P. MENZEL, Michael K. Painter, Paula S. deWitte, Thomas Blinn, Benjamin Perakath, INFORMATION INTEGRATION FOR CONCURRENT ENGINEERING (IICE) IDEF3 PROCESS DESCRIPTION CAPTURE METHOD REPORT, Knowledge Based systems, incorporated one KBSI PLACE 1500 university Drive East College Station, Texas 77840-2335, Septembre 1995
[METAXIOTIS 2004], Kostas METAXIOTIS, Kostas ERGAZAKIS, Emmanuel SAMOUILIDIS, John PSARRAS, Decision support through knowledge management: the role of the artificial intelligence, International Journal of Computer Applications in Technology, Volume 9, N°2, pp101-106, 2004.
[MILLE 1999] Alain MILLE, Tutorial RàPC, Etat de l'art du raisonnement à partir de cas, Plateforme AFIA'99, Palaiseau, 17 juin 1999
[MILLE,2001], Alain MILLE, Les connaissances: formaliser, raisonner, apprendre, Cours de DEA, ECD, 2001
[MIL-STD-105, 1989], Military Standard, Sampling procedures and tables for inspection by attributes, DoD, Washington, DC 20301, 10 may 1989
[MIL-STD-414, 1957], Office of the assistant secretary of defense, Sampling procedures and tables for inspection by variables for percent defective, DoD, Washington 25, 11 Juin 1957
[MITAL 1993], KUO T. et MITAL A. Quality Control expert systems review pertinent literature, Journal of Intelligent Manufacturing, Volume 4, N°4, pp245-257, 1993.
[MONFARED 2002], MONFARED R.P., WEST, A.A., HARISON R., WESTON R.H., An implementation of the business process modeliling approach in the automotive industry, Proceedings of the institution of Mechanical Engineering. Part B, Management and Engineering Manufacture, Vol 216, N°B11, ISSN:ISBN: 0263-7146, 2002
[MONTGOMERY 2001], Douglas C MONTGOMERY, Introduction to statistical quality control, 4th Edition, John Wiley & Sons, Inc, ISBN 0-471-31648-2
[NAPOLI 1996], Amédéo NAPOLI, les logiques de description, Rapport de Recherche 3314, INRIA Lorraine, 1996
[NF X60-30 2001], Norme AFNOR X6030, Maîtrise statistique des procédés, AFNOR, 2001, Tomes 1 à 6
[NONAKA 1994], I. NONAKA, A dynamic Theory of Organizational knowledge creation, Organization science (5 :1), pp14-37, 1994
[PACHULSKI 2001] , Alexandre PACHULSKI, Le repérage des connaissances cruciales poiur l'entreprise: concepts, méthode et outils, Thèse de doctorat, Paris IX, 19 décembre 2001
[PAN 1992], PAN JN et KOLARIK W.J. Quality tree systematic problem solving model using total quality management tools techniques, Quality Engineering, 5(1), 1-20, 1992
[PELTIER 2001], René PELTIER, Un exemple concret de gestion des connaissances à AIRBUS, Journée AIP-PRIMECA de Grenoble,- Thème Dynamique des connaissances en conception: acquisition, capitalisation et réutilisation, Mardi 22 mai 2001
[PILLET, 2003], Maurice PILLET, La maîtrise statistique des procédés, Editions d'Organisation, ISBN, 2001
[PINATON 2004], Jacques PINATON, Philippe CAMPION, De l'efficience de la production par une approche 'Qualité Totale' de type PDCA, GDR MACS, Journées de synthèse Aix, Octobre 2004
[PRICE 2001], C.J. PRICE, N.S. TAYLOR, Automated multiple failure FMEA, Reliability engineering and system safety 76, 1-10, 2002
[PURAN LUTHRA, 1991] Puran LUTHRA, FMECA: An integrated Approach, Proceedings Annual Reliability and maintenability Symposium, 1991
[QS-9000, 1993], Potential Failure Mode And Effects Analysis (FMEA) reference manual, Chrysler Corporation, Ford Motor Company, General Motors Corporation, 1993
[SACHS et Al, 1991], Emmanuel SACHS, Ruey-Sahn GUO, Sungdo HA, Albert HU, «process control» System for VLSI Fabrication, IEEE Transaction on semiconductor Manufacturing, Vol 4, N°2, May 1991
[SALVI et Al, 2003] O. SALVI, E. BERNUCHON, Outils d'analyses des risques générés par une installation industrielle, Rapport Ω7, INERIS DRA, Mai 2003
[SAPORTA 1990], Gilbert SAPORTA, Probabilités analyse des données et statistque, Editions Technip, 1990
[SEMATECH, 1992] Mario VILLACOURT, Failure Mode and Effects Analysis(FMEA): A Guidance for Continuous Improvement for the Smiconductors Equipment Industry, Technology Transfer # 92020963B-ENG, International Sematech, 1992
[SHAW C. FENG et al. 2000], Shaw C. Feng, Eugene Y. Song, Information Modeling of Conceptual Planning Integrated with Conceptual Design, proceedings of DETC2000, Baltimore, Maryland, 2000
[SHON-ROY et al, 1998], Lita SHON-ROY, Allan WIESNOSKI, Robert ZORICH, Advanced Semiconductor Fabrication Handbook, William Phillips Editor, ISBN 1-877750-70-0, 1998
[SKOTNICKI 2001 a], Thomas SKOTNICKI, Transistor MOS et sa technologie de fabrication, Techniques de l'Ingénieur, traité Electronique volume E2430, 2001
[SKOTNICKI 2001 b], Thomas SKOTNICKI, Circuits intégrés CMOS sur silicium, Techniques de l'Ingénieur, traité Electronique volume E2432, 2001
[SMART 1999], P.A. SMART, R.S. MAULL, S.J. CHILDE, A reference model of ‘operate' processes for process-based change, International Journal of Computer Integrated Manufacturing, Vol 12, N°6, pp471-482, 1999
[SNEE 2003], Ronald D. SNEE, Eight essential tools, in Quality Progress pp86 - 88, decembre 2003.
[SNOWDEN 1999] David SNOWDEN, A framework for creating a sustainable knowledge management program, The knowledge management Yearbook 1999-2000, pp52-64, 1999
[STI, 2000], NASA Scientific and technical Information (STI) Program, NASA STI Help Desk, 301-621-0390, February 2000
[TAGUSHI, 1985], G. TAGUSHI, Y WU, Introduction to Off line Quality Control, Central Japan Quality Association 1985.
[TAM, 1995], Yin Jenny TAM, Datacube: Its implementation and Application in OLAP Mining, M. Sc thesis, Simon Fraser University, 1995
[TENENHAUS, 1998], Michel TENENHAUS, La régression PLS théorie et pratique, Edition Technip, 1998
[THEOS 2004], P.C. THEOS, Keith CASE, Failure Modes and Effects Analysis through knowledge modelling, Journal of materials processing technology, Elsevier, 2004
[THORAVAL 1984], René THORAVAL, Un outil informatique pour l'analyse graphique de données, INRIA, Rapport Technique N°33, Avril 1984.
[TRAHAN 1999], Robert TRAHAN, Anthony POLLOCK, Using an Inverted FMEA to Manage Change and Reduce Risk in a FAB, IEEE 1999
[TRIENKENS 2001], TRIENKENS J.H, HVOLBY H.H., Models for supply chain reengineering, Production Planning and Control, Volume 12, N° 3, pp254-264, 2001
[TSUNG 1995], P.W. TSUNG, The Three "F"s in Quality and Reliability: Fault Tree Analysis, FMECA, FRACAS, International Symposium on Quality in Non Ferrous Pyrometallurgy, pp115-124
[TUFTE 1997], Edward R. TUFTE, Visual explanations, Images and quantities, evidence and narrative, Graphics Press, 1997
[TUMER 2001] Irem Y. TUMER, Robert B. STONE, Mapping function to failure mode during component development, Research in Engineering Design, Proceedings of the 2001 DETC Conference.
[TUMER et Al, 2002(b)] Irem Y. TUMER, Robert B. STONE, Rory A. ROBERTS, Towards failure-freee design: Reducting dimensionality in function-failure similarity analysis for large database, Proceedings og the ASME International Mecahnical Engineering Congress, 17-22 Novembre 2002, New Orleans, Louisiane.
[TUMER 2002(a)], Irem Y. TUMER, Srikesh G. ARUNAJADAL, Robert B. STONE, Failure mode identification through clustering analysis, Quality and Reliability Engineering International Journal, in revision
[TUMER 2003], Irem Y. TUMER, Robert B. STONE, David G. BELL, requirements for a failure mode taxynomy for use in conceptual design, International Conference on engineering Design ICED 03, Stockholm, 19-21 Août 2003.
[TWO CROWS 1999], TWO WROWS CORPORATION, Introduction to Datamining and Knowledge Discovery, TCC Editions, ISBN 1-802095-02-5, 1999
[VERNADAT 1996], François .B. VERNADAT, Enterprise Modeling and Integration: Principles and Applications, Chapman & Hall, London, 1996
[VERNADAT 1997], François B. VERNADAT, Enterprise Modelling Languages, Enterpruse Engineering and Integration Building International Consensus Proceedings of ICEIMT'97, TORINO, ITALY, 28-30 Octobre 1997
[VERNADAT, 2002], François B. VERNADAT, UEML: towards a unified enterprise modelling language, International Journal of Production Research, Taylor & Françis, Volume 40, Numéro 17, 20 Novembre 2002, pp4309 - 4321
[WHITCOMB 1994], Rick WHITCOMB, Failure Modes and Effects Analysis (FMEA) System Deployment in a Semiconductor Manufacturing Environment, IEEE/SEMI 1994
[WILHELMIJ 1993], Paul WILHELMIJ, Tony HOLDEN, Knowledge Management for reduced risk in petrochemical operations, Colloquium - Institution of electrical engineers, 1993
[WIRTH et Al, 1996], R. WIRTH, B. BERTHOLD, A. KRAMER, G. PETER, knowledge-based support of system analysis for the Analysis of failure modes and effects, Enginnering Application of Artificial Intelligence, 9(3), pp 219-229, 1996
[ZELM 1997], M. ZELM, K. KOSANKE, CIMOSA an dits application in an ISO 9000 Process Model, Manufacturing Systems Proceedings Manufacturing systems modelling management and control, Vienna, Février,1997
[ZWEGERS 1997], Arian J.R. ZWEGERS, Shu-Guei FANG, Henk-Jan PELS, Evaluation of architecture design with CIMOSA, Computers in Industry, N°34, pp187-200,1997.

Table of content

INTRODUCTION GENERALE - 7
CHAPITRE I. LE "PROCESS CONTROL», LE MOTEUR DE LA QUALIFICATION ET DE L'AMELIORATION DES MOYENS DE PRODUCTION - 11
1 Caractéristiques des produits semi-conducteurs - 12
1.1 La fabrication de ces produits - 12
1.2 Les grandes étapes de fabrication des produits - 12
1.3 Les caractéristiques des fabrications "Front-End" - 13
1.4 Des circuits et des technologies - 14
1.5 Le cycle de vie des produits, le cycle de vie d'une technologie et la rentabilité - 15
2 Caractéristiques d'une technologie de semi-conducteurs - 15
3 Un modèle conceptuel des moyens de fabrication - 18
4 Le travail du «process control» - 20
4.1 Aspects organisationnels: le service «process control» - 21
4.2 Présentation d'axes de travail relevant de la qualification - 23
4.3 Présentation d'axes de travail relevant de l'amélioration - 25
4.4 Quelques outils - 26
5 Problématique et axe de recherche - 26
5.1 La complexité de la mission du «process control» - 26
5.2 Problématique - 29
5.3 Axe de recherche - 29
CHAPITRE II. UNE METHODOLOGIE DE GESTION DES RISQUES CONTRIBUANT A LA QUALIFICATION ET A L'AMELIORATION DES MOYENS DE PRODUCTION - 31
1 Description du besoin - 32
1.1 Le monde parfait ... et la réalité - 33
1.2 Un constat de manques - 33
1.3 Le besoin - 34
2 Quelques recherches sur les AMDEC - 35
2.1 Quelques références normatives - 35
2.2 Quelques travaux spécifiques - 37
2.3 L'AMDEC, le vilain petit canard ? - 39
3 Construction de la démarche de gestion des risques - 39
3.1 Une démarche systématique d'analyse - 40
3.2 Le cadrage des analyses - 41
3.3 Comment se concentrer sur les problèmes opérationnels ? - 42
3.4 Comment obtenir des informations pertinentes ? - 43
4 Les supports de la démarche - 44
4.1 Le support de déploiement - 44
4.2 Les synthèses comme un support - 46
5 La vie de la démarche - 48
5.1 De la collecte des évènements... - 48
5.2 ...à leur intégration dans les AMDEC - 48
6 Rationalisation des pratiques de gestion des risques - 49
7 Synthèse des réalisations - 50
8 Faisons un peu de modélisation... - 51
8.1 Les modèles - 52
8.2 Les interactions entre les éléments - 56
8.3 Les connaissances métiers dans ces travaux - 67
9 Conclusion du chapitre - 69
CHAPITRE III. MISE SOUS SURVEILLANCE DES MOYENS GENERAUX - 71
1 Une description des métiers - 73
1.1 Les spécificités de la chimie - 73
1.2 Les spécificités des gaz - 73
1.3 Les spécificités de l'EDI - 74
1.4 Les spécificités de l'HVAC - 74
1.5 Les spécificités de la salle blanche - 74
1.6 Les spécificités des rejets liquides - 74
1.7 Les spécificités de l'électricité - 75
2 Analyses des besoins - 75
2.1 L'identification des variables importantes - 75
2.2 La collecte des données off line - 75
2.3 Fournir des axes d'amélioration des installations - 76
2.4 Liste des besoins - 76
3 Quelques éléments sur la maîtrise statistique des procédés - 76
3.1 Eléments de statistique descriptive élémentaire - 77
3.2 Eléments pour le contrôle de production - 78
3.3 Vers l'emploi de statistiques descriptives évoluées - 82
4 Réalisations - 83
4.1 Le plan de surveillance - 83
4.2 La collecte des données off line - 87
4.3 L'outillage de l'amélioration - 90
5 Synthèses des réalisations - 95
6 Pour en revenir à la problématique - 96
6.1 Les modèles d'activités - 96
6.2 Les processus - 104
6.3 Les connaissances manipulées - 105
7 Conclusion du chapitre - 106
CHAPITRE IV. PROPOSITIONS DE MODELES POUR QUALIFIER ET AMELIORER LES MOYENS DE PRODUCTION - 109
1 Le concept de «process control» dans la littérature - 110
1.1 Une vue "régulation" - 110
1.2 Une vue mathématique appliquée - 112
1.3 Une vue d'ingénierie qualité - 114
1.4 La nécessité d'une vue intégrée - 115
1.5 Nos outils de modélisation - 116
2 Le thème sous jacent des connaissances - 117
2.1 Le concept de connaissance et ses caractéristiques - 117
2.2 Vers un invariant des connaissances métier - 119
2.3 Comment supporter les connaissances métier ? - 121
3 La construction des activités du «process control» - 123
3.1 A21 / Collecter - 124
3.2 A22 / Analyser off line - 127
3.3 A23 / Gérer les risques - 128
3.4 A24 / Analyser on line - 129
3.5 A25 / Synthétiser - 131
3.6 La vue A2/ "Réaliser la qualification et l'amélioration" - 133
3.7 Vue A-0 / Qualifier et améliorer l'élément - 139
3.8 Synthèse sur la partie "activités" - 139
4 Les processus métier du «process control» - 140
4.1 Description des processus de qualification et d'amélioration d'un élément - 140
4.2 Liens interprocessus - 146
4.3 Maîtrise globale des moyens de production - 147
5 La robustesse de la qualification et de l'amélioration - 150
6 Conclusion du chapitre - 152
CONCLUSION GENERALE - 155
BIBLIOGRAPHIE - 161
Annexes - 174
ANNEXE 1. Glossaire - 175
1 Orienté semi-conducteurs - 175
2 Orienté génie industriel - 175
3 Equivalence des termes - 176
ANNEXE 2. Grilles de cotations des risques - 178
1 Grilles de cotations pour les non conformités produit - 178
2 Grilles de cotations pour le temps de cycle - 180
ANNEXE 3. Quelques outils de modélisation en entreprise - 182
1 IDEF et quelques applications - 182
2 CIMOSA et applications - 183
3 GRAI et applications - 184
4 Conclusion - 186
ANNEXE 4. Analyse du concept "connaissance" - 188
1 Quelques développements relevant des mathématiques appliquées - 188
2 La connaissance, un concept bien défini - 190
3 Les cadres directeurs de gestion des connaissances - 191
4 La connaissance, un objet non identifié ? - 193
5 Conclusion - 194
ANNEXE 5. Les concepts associés aux activités du «process control» - 196
1 Modèle des concepts relatifs aux activités de «process control» - 196
2 Modèle représentatif du domaine - 200
3 Interaction entre les modèles conceptuels et les activités: "Alimentation" des activités - 204
4 Discussion et limites de ces modèles - 206
ANNEXE 6. Détail des paramètres des activités de «process control» - 208
ANNEXE 7. Réalisations de la mise sous contrôle des facilities - 210
1 Modèle des données de la base de données off line des facilities - 210
2 Présentation des outils SPC des facilities - 211
ANNEXE 8. Réalisation de la gestion des risques opérationnels - 212
1 Méthode - 212
2 L'outillage - 214
3 Réalisation - 215

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